Méthode de test consistant à utiliser des probes pour vérifier la qualité d’un circuit imprimé. Elle est la technologie la plus complète des méthodes de test préfonctionnel.

Elle couvre les domaines suivants :

  •       Courts-circuits & circuit ouvert
  •       Composantes analogues passives & actives
  •       Composantes Bscan & digitales
  •       Test de continuité
  •       Composantes programmables (CPLD, FPGA, FLASH, Serial PROM, µCPU)
  •       Tests fonctionnels Boot-up/RAMTest/BISTest
  •       Tests de LED automatiques

Station de test : Keysight (Agilent) HP3070